RM新时代|官网产品

我們使用 Cookie 來(lái)提升您的網(wǎng)站瀏覽體驗。如您繼續瀏覽本網(wǎng)站，即表示您同意我們根據 《隱私政策》 使用Cookie。

TB1100

面向 180-65 nm 技術(shù)節點(diǎn)

可兼容 200/300 mm wafer


1100.png

產(chǎn)品優(yōu)勢

  • c3icon02.svg

    高靈敏度

    • 可穩定抓取尺寸 70 nm 及以上缺陷

    • 先進(jìn)的信號處理算法，有效提高信噪比

    • 寬波段，可抓取各種類(lèi)型缺陷

  • 680b37417a1c6.svg

    高 Throughput

    • 高 Data Rate

    • 多種 Pixel Size 選擇

    • 支持 High Speed 掃描模式

  • 680b37417a505.svg

    智能軟件支持

    • 在線(xiàn)智能分類(lèi)系統 SDA

    • 工藝窗口驗證

培訓證書(shū)查詢(xún)

查詢(xún)

對于證書(shū)的查詢(xún)有相關(guān)疑問(wèn)，前往聯(lián)系我們

RM新时代|官网产品