新品發(fā)布 | 天準明場(chǎng)納米圖形晶圓缺陷檢測裝備 TB2000 已正式通過(guò)廠(chǎng)內驗證，于 SEMICON 2025 展會(huì )正式發(fā)布！

天準新一代 VMQ222 閃測影像儀 XY 軸速度高達 200 mm/s，在同等條件下，測量效率提升 200% 以上

天準 AOI-OL 系列在線(xiàn)光學(xué)檢測設備：連線(xiàn)進(jìn)出料，縮減人力成本；雙面同時(shí)檢測，效率高

CMZ 計量型三坐標：集天準四大自研技術(shù)為一體，可完成高精度掃描，滿(mǎn)足嚴格公差尺寸需求。