行業(yè)解決方案 | 高精度閃測,助力錫膏印刷鋼板孔位測量
隨著(zhù)電子制造持續向微型化、高密度化發(fā)展,元器件尺寸不斷縮小、PCB集成度持續提升,SMT錫膏印刷對鋼網(wǎng)精度提出了更嚴苛的要求。
作為錫膏印刷的關(guān)鍵工裝,鋼網(wǎng)開(kāi)孔尺寸與位置度直接影響焊點(diǎn)質(zhì)量、產(chǎn)品良率及可靠性。如今,鋼網(wǎng)開(kāi)孔已進(jìn)入幾十微米量級,單張鋼網(wǎng)往往包含數千至數萬(wàn)個(gè)微孔。如何在大尺寸幅面下,實(shí)現海量微孔的高精度、高效率檢測,已成為精密電子提升制造能力的重要挑戰。
行業(yè)挑戰:微孔密集+全局變形,鋼網(wǎng)檢測為何難突破?
對于SMT制造而言,鋼網(wǎng)檢測是保障錫膏印刷一致性、提升焊接良率的重要基礎。某頭部精密電子制造服務(wù)商在SMT鋼網(wǎng)量產(chǎn)全檢過(guò)程中,需要完成開(kāi)孔尺寸、位置度及整體變形檢測,并與Gerber設計文件進(jìn)行比對校驗,以保障錫膏印刷質(zhì)量。然而,隨著(zhù)鋼網(wǎng)加工精度不斷提升,傳統檢測方案逐漸暴露出多方面局限:
微孔檢測精度受限
最小開(kāi)孔直徑不足0.1 mm,普通光學(xué)設備分辨率有限,難以準確獲取微孔尺寸及輪廓特征。
大尺寸檢測效率不足
傳統設備難以兼顧大行程與高精度,整板檢測需數百次圖像拼接,周期長(cháng)、效率低。
設計數據關(guān)聯(lián)能力有限
缺乏Gerber文件自動(dòng)比對與全局變形分析能力,對位效率低。
全量檢測難以適應量產(chǎn)節拍
海量孔位需逐個(gè)編程測量,檢測流程復雜,難以滿(mǎn)足高節拍生產(chǎn)需求。

技術(shù)方案:軟硬協(xié)同,構建鋼網(wǎng)高精度測量能力
針對SMT鋼網(wǎng)高精度、大尺寸及高密度開(kāi)孔檢測需求,天準科技基于VMQ閃測影像儀與Vispec軟件構建高效測量方案,通過(guò)高精度成像、融合測量等技術(shù),實(shí)現鋼網(wǎng)全量檢測效率與精度同步提升。

1、雙倍率成像與智能光學(xué)配置,兼顧大視野與微孔測量
VMQ搭載天準自研雙倍率鏡頭,單次拍攝即可同時(shí)覆蓋鋼網(wǎng)邊框定位孔與孔徑小于 0.1mm 的微小開(kāi)孔,兼顧大視野與微米級測量精度。
針對不銹鋼鋼網(wǎng)高反光特性,系統結合遠心光和可升降落射光源,精準獲取孔壁輪廓、消除毛刺干擾,同時(shí)準確識別Mark點(diǎn)及表面字符,保障定位精度與成像質(zhì)量。
2、智能校正與融合測量,支持Gerber/CAD直導
系統支持Gerber/CAD設計文件直接導入,自動(dòng)生成理論測量路徑,確保測量點(diǎn)位與設計要求一致。上料后,系統自動(dòng)識別Mark點(diǎn)或邊框特征, 快速建立工件坐標系,并自動(dòng)完成坐標系校正。


測量環(huán)節采用融合測量技術(shù),設備在運動(dòng)過(guò)程中連續采集圖像,通過(guò)亞微米級圖像配準算法自動(dòng)拼接為高分辨率全景圖。僅需設定覆蓋鋼網(wǎng)關(guān)鍵區域的掃描路徑,即可在全景圖中一次性提取全部孔位數據,相比傳統單點(diǎn)測量效率提升20%以上。針對超大尺寸鋼網(wǎng),系統支持高精度分區掃描與數據自動(dòng)融合,并自動(dòng)生成完整測量報告。

價(jià)值創(chuàng )造:全檢效率提升,質(zhì)量閉環(huán)持續完善
方案導入后,客戶(hù)實(shí)現了鋼網(wǎng)檢測效率與質(zhì)量管理能力的同步提升:
整板全檢周期由數小時(shí)縮短至分鐘級;無(wú)需定制專(zhuān)用治具,鋼網(wǎng)換型時(shí)間大幅壓縮; 滿(mǎn)足微米級開(kāi)孔尺寸及位置度測量要求,孔位對位一致性顯著(zhù)提升;全量檢測數據可追溯,為SPC分析及鋼網(wǎng)壽命預測提供可靠依據。
上述方案不僅滿(mǎn)足了客戶(hù)SMT產(chǎn)線(xiàn)高節拍量產(chǎn)需求,也進(jìn)一步提升了錫膏印刷一致性及后續焊接良率,為精密電子制造提供更加穩定的質(zhì)量保障。
隨著(zhù)精密電子制造持續向高密度、微型化演進(jìn),高效、智能的工業(yè)測量正成為制造升級的重要基礎能力。天準科技持續深耕AI產(chǎn)業(yè)鏈,以高端量檢測裝備助力客戶(hù)提升制造精度、產(chǎn)品良率和生產(chǎn)效率。如需了解更多精密電子制造業(yè)的高精度測量解決方案,歡迎聯(lián)系天準科技。